Estructura y propiedades de nanosistemas magnéticos

Abstract

Mediante el presente proyecto se instalaron y pusieron a punto dos sistemas de elaboración de películas delgadas: una cámara de alto vacío para evaporación térmica y una cámara de pulverización catódica con magnetrón. Diseña y construye un dispositivo que permite determinar la resistencia eléctrica de las películas depositadas como función de su espesor, a medida que éste va aumentando. Desarrolla una metodología para determinar la composición y espesor de películas delgadas depositadas sobre substratos, utilizando señales de rayos-X característicos, generadas en una microsonda electrónica, variando la energía y el ángulo de incidencia de los electrones, y tratadas con el formalismo de la Espectroscopia de Electrones Auger. Desarrolla un método de caracterización de recubrimientos refractarios depositados sobre substratos metálicos, basado en la creación de contraste debido a la diferencia en el rendimiento de “sputtering” entre el recubrimiento, la interfase y el substrato, así como en el análisis de las diferentes fases presentes mediante Espectroscopia de Electrones Auger cuantitativa.