SABER UCV >
2) Tesis >
Pregrado >

Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/123456789/14414

Título : Estudio de facies de abanicos de rotura en el Delta del Orinoco
Autor : Gómez M., Juan D.
Palabras clave : Abanico de rotura
Delta del Orinoco
Textura
Caño Macareo
Fecha de publicación : 10-Feb-2017
Citación : TESIS G586 2011 G;
Resumen : En la presente investigación se realizó un estudio sedimentológico de tres abanicos de rotura localizados en el caño Macareo, en el delta del Orinoco. La interpretación de los resultados se enfocó en los parámetros texturales a través de métodos estadísticos. También, se hizo el estudio de minerales pesados para determinar la procedencia de los sedimentos que constituyen los abanicos de rotura. Además, se determinaron las características como reservorios potenciales de los abanicos de rotura y los procesos que controlan su desarrollo y evolución como futuras trampas de hidrocarburos a lo largo del tiempo geológico.La dinámica sedimentaria en las facies de abanicos de rotura, se manifiesta por la formación de bancos elongados de arenas muy finas depositados n la llanura deltaica. La mayoría de los constituyentes de los sedimentos que conforman las facies de abanicos de rotura, provienen de la región del norte de la Guayana Venezolana, estamos hablando del Complejo de Imataca, Grupo Guchivero, Formación Roraima sin descartar la influencia de la Provincia de Pastora, Cordillera del Caribe y Serranía del Interior Oriental y la Formación Mesa, así como también de las cadenas andinas (Andes de Venezuela, Cordillera Oriental de Colombia).
URI : http://hdl.handle.net/123456789/14414
Aparece en las colecciones: Pregrado

Ficheros en este ítem:

Fichero Descripción Tamaño Formato
T.E.G._Juan Daniel Gómez_Escuela de Geología.pdf4.41 MBAdobe PDFVisualizar/Abrir

Los ítems de DSpace están protegidos por copyright, con todos los derechos reservados, a menos que se indique lo contrario.

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2008 MIT and Hewlett-Packard - Comentarios